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GB/T 2423.1-2008 低温试验(试验A)

GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》

规定非散热与散热试验样品的低温试验方法,考核产品在低温环境下贮存、运输与使用的适应能力。

电工电子产品、元器件、零部件及其组合件。

等同采用 IEC 60068-2-1:2007。军标对应 GJB 150.4A(低温试验)。


术语 含义
温度稳定 试样上所有点的温度与最终温度之差在 3 K 以内,且变化率 ≤ 1 K/h
散热试验样品 温度稳定时,自由空气中试样表面最热点温度高出周围空气 5 K 以上
非散热试验样品 表面最热点与周围空气温差 ≤ 5 K

温度 (℃) 说明
-65 / -55 / -50 极寒、高原、机载外部
-40 / -33 工业与汽车电子最常用
-25 / -20 一般室内外设备
-10 / -5 / +5 特殊使用条件
时长 典型用途
2 h / 16 h 快速摸底
72 h / 96 h 贮存与运输考核
参数 要求
降温速率 ≤ 1 K/min(以 5 min 平均值计)
温度容差 ≥ -50 ℃ 时 ±2 K;< -50 ℃ 时 ±3 K
气流速度 低气流(≤ 0.5 m/s)试验样品的温度不得因气流降低 5 K 以上
预处理 标准大气 23 ± 2 ℃ / 50 ± 5 % RH

  1. 按相关规范进行预处理与初始检测,记录外观与功能基线。
  2. 以不超过 1 K/min 的速率将试验箱降至规定温度(试样在箱内随箱降温)。
  3. 保持至试样达到温度稳定,再开始计算规定的持续时间。
  4. 在规定持续时间结束前,按需要实施中间检测(试样不得移出试验箱)。
  5. 以不超过 1 K/min 的速率升回标准大气条件温度,期间按试验类型决定是否断电。
  6. 恢复后在标准大气条件下进行最后检测,与初始数据对比。

按相关规范规定的性能判据判定(低温试验通常关注:外观无开裂脆化、功能正常、电气参数在允差内、密封件无泄漏)。


  1. 试验类型选择是首要问题:试验 Ab(非散热,全程断电)、试验 Ad(散热,温度稳定后通电)、试验 Ae(散热,全程通电)。选错类型等于换了试验。
  2. 持续时间从温度稳定时刻起算,不含降温与恢复时间。
  3. 散热试验样品必须规定通电负载状态,负载大小直接影响试样内部温升与失效模式。
  4. 温度变化能力(如冷热冲击)不属于本试验范围,应改用 GB/T 2423.22 或 GJB 150.5A。
  5. 低温失效典型机理:材料脆化、润滑脂凝固、液晶显示响应变慢、电池容量骤降、密封件收缩泄漏。
  6. 试验后应立即检测,部分低温可恢复特性会在回温后消失。

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